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概述:
CST-50型衝擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型衝擊試樣缺口質量而設計、開發的一種專用光學儀器,與刻在投影屏上的衝擊試樣缺口標準樣板圖進行對比,以確定被檢測的衝擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,是理化試驗室的必備專用設備。
技術參數:
投影屏: ¢200mm
放大倍數: 50X
光源: 12V 100W(鹵鎢燈)
電源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm
重量: 約18Kg
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