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    CST-50 衝擊試驗缺口投影儀

    概述:

    CST-50型衝擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型衝擊試樣缺口質量而設計、開發的一種專用光學儀器,與刻在投影屏上的衝擊試樣缺口標準樣板圖進行對比,以確定被檢測的衝擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,是理化試驗室的必備專用設備。
    技術參數:

    投影屏: ¢200mm

    放大倍數: 50X

    光源: 12V 100W(鹵鎢燈)
    電源: 220V 50Hz 150W
    外型尺寸: 515×224×603mm
    重量: 約18Kg

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